机译:离子束/材料相互作用与实际FIB样品制备之间的关系
机译:用FIB制备金属材料TEM样品时FIB引起的损伤的TEM研究
机译:利用聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)进行CVD金刚石涂层工具的样品制备和分析的新方法
机译:FIB微采样技术和特定于特定的特定材料特性特征特征的特定方法
机译:高束通量下聚焦离子束(FIB)材料去除和重新排列的机制。
机译:铝合金原子探针试样的新方法
机译:具有FIB的样品制备方法,用于材料科学的原位TEM观测
^ ^ MDASH; FIB用玻璃机械手^ ^ mdash制备TEM样本;